中標(biāo)信息5
發(fā)布時(shí)間：2017/7/19 0:44:50 點(diǎn)擊次數(shù)：4891次
恭喜我公司在天津大學(xué)天津大學(xué)低溫半導(dǎo)體探針臺(tái)系統(tǒng)項(xiàng)目（TD2011-J-32）中標(biāo)。
（TTPX低溫真空探針臺(tái)）
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技術(shù)指標(biāo) |
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Leakage current
Leakage current between each of the four DC probes smaller than 100 f Amps
漏電流，每一個(gè)直流探針臂的漏電流小于100 f Amps |
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Vacuum: pressure < 5x10^-4 Torr after 2 hours of pump down (System must be in proper condition, after regular use of the system )
真空泵組在抽真空2個(gè)小時(shí)之后,真空度：壓強(qiáng)< 5x 10E-4 Torr (系統(tǒng)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)途運(yùn)輸，需要連續(xù)抽真空48小時(shí)用來(lái)消除設(shè)備放氣。 當(dāng)設(shè)備沒(méi)有放氣時(shí)，用隨探針臺(tái)提供的真空泵組在抽真空2個(gè)小時(shí)之后,真空度：壓強(qiáng)< 5x 10E-4 Torr。 系統(tǒng)必須在正確的條件下正確的使用，真空泵系統(tǒng)必須規(guī)律的使用。如果系統(tǒng)暴露大氣超過(guò)1個(gè)小時(shí)，需要連續(xù)抽真空24小時(shí)。在暴露大氣時(shí)，需要提供氮?dú)獗Ｗo(hù)。如果用戶使用自己的真空泵組，則真空泵組的指標(biāo)必須等效或高于廠家提供的真空泵組的指標(biāo)） |
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Cooling: temperature 4.5K after 60 minutes on sample holder,
在使用樣品架時(shí)，經(jīng)過(guò)60分鐘制冷，溫度達(dá)到4.5K；（不安裝樣品） |
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Temperature stability equilibration in temperature range of 4.5 K ~ 400 K better than +/-0.5 K (without sample)
在4.5K ~ 400 K溫度穩(wěn)定性優(yōu)于+/-0.5 K（不安裝樣品） |
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Maximum number of manipulated stages
探針臂的數(shù)量 4 |
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Probe travel movement x =51mm, y=25mm, z=18mm; Translation resolution
X axis 20um，Y and Z axes 10um
探針行程x =51mm, y=25mm, z=18mm，
X 軸的分辨率為20um,Y 軸和Z 軸的分辨率為10um |
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Resolution of optics : 4 microns
光學(xué)顯微鏡的分辨率為4微米 |
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